Eclipse上に実装した組込みシステムのコード品質解析システム (システムLSI設計技術・組込みシステム・組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008)

Eclipse上に実装した組込みシステムのコード品質解析システム

(システムLSI設計技術・組込みシステム・組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008)

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Material Type: 記事
Title: Eclipse上に実装した組込みシステムのコード品質解析システム
Author/Editor: 中村祐一
撫原恒平
Series Title: システムLSI設計技術・組込みシステム・組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008
Author Heading: 中村祐一
撫原恒平
Alternative Title: Code quality analysis toolset for embedded systems by using Eclipse
Periodical title: 情報処理学会研究報告 = IPSJ SIG technical reports
No. or year of volume/issue: 2008(32) 2008.3.27・28
Volume: 2008
Issue: 32
Pages: 145～148
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2008-03
ISSN (Periodical Title): 0919-6072
ISSN-L (Periodical Title): 0919-6072
Publication (Periodical Title): 東京 : 情報処理学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 組込みシステム
品質解析
Eclipse
Embedded System
Code quality analysis
NDLC: ZM13
Target Audience: 一般
Report No. (Article): 2008-SLDM-134-(25)
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z14-1121
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 9458781
http://id.ndl.go.jp/bib/9458781
Bibliographic Record Category (NDL): 632