「STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)」, 固体表面キャラクタリゼーションの実際－ナノ材料に利用するスペクトロスコピー

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Material Type: 図書
Title: 「STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)」, 固体表面キャラクタリゼーションの実際－ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
Author/Editor: 福井, 賢一
Fukui, Ken-ichi
Author Heading: 福井, 賢一
Fukui, Ken-ichi
Publication, Distribution, etc.: 講談社サイエンティフィク
Publication Date: 2005
Publication Date (W3CDTF): 2005
Periodical title: 固体表面キャラクタリゼーションの実際－ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
Pages: 124-137
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): identifier:oai:t2r2.star.titech.ac.jp:00117523
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 東京工業大学 : 東京工業大学リサーチリポジトリ