NDIS 2430:2017 半導体製造用高圧ガス容器の超音波探傷検査による再検査方法

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Material Type: 文書・図像類
Title: NDIS 2430:2017 半導体製造用高圧ガス容器の超音波探傷検査による再検査方法
Author/Editor: 井上, 裕嗣
INOUE, HIROTSUGU
Author Heading: 井上, 裕嗣
INOUE, HIROTSUGU
Publication, Distribution, etc.: 日本非破壊検査協会
Publication Date: 2018-01
Publication Date (W3CDTF): 2018-01
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): identifier:oai:t2r2.star.titech.ac.jp:50438494
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 東京工業大学 : 東京工業大学リサーチリポジトリ