超高圧走査透過型電子顕微鏡による銅単結晶疲労試験片における変形帯内のcell境界の観察

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Tokyo Tech Research Repository
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Material Type: 文書・図像類
Title: 超高圧走査透過型電子顕微鏡による銅単結晶疲労試験片における変形帯内のcell境界の観察
Author/Editor: 宮澤, 知孝
Miyazawa, Tomotaka
梅田, 侑暉
Umeda, Yuki
藤居, 俊之
FUJII, TOSHIYUKI
Author Heading: 宮澤, 知孝
Miyazawa, Tomotaka
梅田, 侑暉
Umeda, Yuki
藤居, 俊之
FUJII, TOSHIYUKI
Publication Date: 2020-09
Publication Date (W3CDTF): 2020-09
Periodical title: 文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業微細構造解析プラットフォーム利用報告書令和元年度
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): identifier:oai:t2r2.star.titech.ac.jp:50540322
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 東京工業大学 : 東京工業大学リサーチリポジトリ