平成31年度第2回蔵本技術部門研修会「Qubit® Fluorometer＆NanoDropを用いたDNA量の測定」開催報告

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Material Type: 文書・図像類
Title: 平成31年度第2回蔵本技術部門研修会「Qubit® Fluorometer＆NanoDropを用いたDNA量の測定」開催報告
Author/Editor: 堀川, 秀昌
渡邊, 明子
Author Heading: 堀川, 秀昌
渡邊, 明子
Publication, Distribution, etc.: 徳島大学技術支援部
Publication Date: 2020-03-02
Publication Date (W3CDTF): 2020-03-02
Periodical title: 技術支援部技術報告
No. or year of volume/issue: 3
Volume: 3
Pages: 26-27
ISSN (Periodical Title): ISSN : 2434-6411
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Format (IMT): application/pdf
Source: http://repo.lib.tokushima-u.ac.jp/files/public/11/114588/20200409111542248401/btsd_3_26.pdf
http://repo.lib.tokushima-u.ac.jp/files/public/11/114588/20200409111542248401/btsd_3_26.pdf
Access Restrictions: 限定公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 徳島大学 : 徳島大学機関リポジトリ