Siワイヤのゼーベック係数におけるサイズ効果の解明と表面電位顕微鏡を用いた新しい測定技術の構築

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Material Type: 博士論文
Title: Siワイヤのゼーベック係数におけるサイズ効果の解明と表面電位顕微鏡を用いた新しい測定技術の構築
Author/Editor: 鈴木, 悠平
Author Heading: 鈴木, 悠平
Publication, Distribution, etc.: 静岡大学
Publication Date: 2017-12
Publication Date (W3CDTF): 2017-12
Degree grantor/type: 静岡大学
Date Granted: 2018-03-22
Dissertation Number: 甲第986号
Degree Type: 博士(工学)
Text Language Code: jpn
NDC: 501
Target Audience: 一般
Note (General): doctoral
創造科学技術大学院
甲第986号
application/pdf
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 静岡大学 : 静岡大学学術リポジトリ