蛍光 X 線分析法（XRF）によるアクチノイド汚染迅速評価法の開発

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Summary, etc.：: 第30回PIXEシンポジウムで「蛍光 X 線分析法（XRF）によるアクチノイド汚染迅速評価法の開発」というタイトルで研究内容を発表した。(Provided by: 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）)

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Material Type: 文書・図像類
Title: 蛍光 X 線分析法（XRF）によるアクチノイド汚染迅速評価法の開発
Author/Editor: 今関, 等
伊豆本, 幸恵
柳原, 孝太
松山, 嗣史
濱野, 毅
吉井, 裕
今関等
伊豆本幸恵
柳原孝太
松山嗣史
濱野毅
吉井裕
Author Heading: 今関, 等
伊豆本, 幸恵
柳原, 孝太
松山, 嗣史
濱野, 毅
吉井, 裕
今関等
伊豆本幸恵
柳原孝太
松山嗣史
濱野毅
吉井裕
Publication Date: 2014-10-22
Publication Date (W3CDTF): 2014-10-22
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): 第30回PIXEシンポジウム
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構学術機関リポジトリ