従来型赤外分光と顕微分光との相互比較

• Material Type: 文書・図像類
• Title: 従来型赤外分光と顕微分光との相互比較
• Author/Editor: 上田, 隆裕; 楠本, 多聞; 池永, 龍之介; 安田, 修一郎; 小田, 啓二; 北村, 尚; 小平, 聡; 山内, 知也; 上田 隆裕; 楠本 多聞; 池永 龍之介; 安田 修一郎; 小田 啓二; 北村 尚; 小平 聡; 山内 知也
• Author Heading: 上田, 隆裕; 楠本, 多聞; 池永, 龍之介; 安田, 修一郎; 小田, 啓二; 北村, 尚; 小平, 聡; 山内, 知也; 上田 隆裕; 楠本 多聞; 池永 龍之介; 安田 修一郎; 小田 啓二; 北村 尚; 小平 聡; 山内 知也
• Publication Date: 2015-03-30
• Publication Date (W3CDTF): 2015-03-30
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 第29回固体飛跡検出器研究会
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: 重イオン照射による潜在飛跡形成機構の解明のために赤外分光分析が有効である。これまでHIMACの中エネルギー照射室の利用を前提にして、分析視野が直径1cmの従来型赤外分光器を使用してきた。物理汎用ビームラインでの高エネルギー照射では十分なフルエンスを得るには数mm程度に絞ったビームを使うことになり、そ...