質量分析法を用いた高分子材料中に生じる放射線損傷検出法の研究

• Material Type: 文書・図像類
• Title: 質量分析法を用いた高分子材料中に生じる放射線損傷検出法の研究
• Author/Editor: 井原, 大輔; 小平, 聡; 川嶋, 元; 内堀, 幸夫; 高橋, 正; 井原 大輔; 小平 聡; 川嶋 元; 内堀 幸夫
• Author Heading: 井原, 大輔; 小平, 聡; 川嶋, 元; 内堀, 幸夫; 高橋, 正; 井原 大輔; 小平 聡; 川嶋 元; 内堀 幸夫
• Publication Date: 2015-03-30
• Publication Date (W3CDTF): 2015-03-30
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 第29回固体飛跡検出器研究会
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: CR-39は陽子線や重粒子線測定において高い感度を持つ固体飛跡検出器の素材として非常に有名である。重粒子線照射によってCR-39内に形成された潜在飛跡は化学エッチング処理によってエッチピットとして拡大形成される。CR-39の数々のすばらしい利用に対して、照射による潜在飛跡形成とエッチング過程のメカニ...