高速C60+イオン照射による生体分子のスパッタリング収率の測定

• Material Type: 文書・図像類
• Title: 高速C60+イオン照射による生体分子のスパッタリング収率の測定
• Author/Editor: 澤田, 純平(京都大学); 石井, 洋晶(京都大学); 中嶋, 薫(京都大学); 木村, 健二(京都大学); 千葉, 敦也; 山田, 圭介; 平野, 貴美; 鳴海, 一雅; 齋藤, 勇一; 千葉 敦也; 山田 圭介; 平野 貴美; 鳴海 一雅; 齋藤 勇一
• Author Heading: 澤田, 純平(京都大学); 石井, 洋晶(京都大学); 中嶋, 薫(京都大学); 木村, 健二(京都大学); 千葉, 敦也; 山田, 圭介; 平野, 貴美; 鳴海, 一雅; 齋藤, 勇一; 千葉 敦也; 山田 圭介; 平野 貴美; 鳴海 一雅; 齋藤 勇一
• Publication Date: 2018-08-10
• Publication Date (W3CDTF): 2018-08-10
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 第13回 先進原子力科学技術に関する連携重点研究討論会および原⼦⼒機構・量研施設利⽤共同研究、弥⽣研究会成果報告会
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: 二次イオン質量分析法(SIMS)の生体試料への適用においては、一次イオンにクラスターイオンを用いることで無傷の分子イオン収率が増大することが知られている。しかし、生体分子に対する感度の定量評価には、二次イオン収率だけでなく分子のスパッタリング収率も知る必要がある。そこで現在開発を進めているMeV級C...