Highly-sensitive time-of-flight secondary ion mass spectrometry with high energy cluster ion beams

• Material Type: 文書・図像類
• Title: Highly-sensitive time-of-flight secondary ion mass spectrometry with high energy cluster ion beams
• Author/Editor: 平田, 浩一 (産総研); 山田, 圭介; 千葉, 敦也; 平野, 貴美; 鳴海, 一雅; 齋藤, 勇一; 山田 圭介; 千葉 敦也; 平野 貴美; 鳴海 一雅; 齋藤 勇一
• Author Heading: 平田, 浩一 (産総研); 山田, 圭介; 千葉, 敦也; 平野, 貴美; 鳴海, 一雅; 齋藤, 勇一; 山田 圭介; 千葉 敦也; 平野 貴美; 鳴海 一雅; 齋藤 勇一
• Publication Date: 2018-07-05
• Publication Date (W3CDTF): 2018-07-05
• Text Language Code: eng
• Target Audience: 一般
• Note (General): 10th International Symposium on Swift Heavy Ions in Matter & 28th International Conference on Atomic Collisions in Solids
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: ポリメチルメタクリレート(PMMA)標的にサブMeV級のC60イオンを照射した際の二次負イオン放出特性を分析した結果を報告する。C60イオンパルスビームと飛行時間測定二次イオン質量分析法にイベント毎の測定モードを組み合わせることにより、C60イオン1個によって放出される二次負イオン数の確率分布及び特...