Highly-sensitive time-of-flight secondary ion mass spectrometry with high energy cluster ion beams

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Note (General)：: 10th International Symposium on Swift Heavy Ions in Matter & 28th International Conference on Atomic Collisions in Solids

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Material Type: 文書・図像類
Title: Highly-sensitive time-of-flight secondary ion mass spectrometry with high energy cluster ion beams
Author/Editor: 平田, 浩一 (産総研)
山田, 圭介
千葉, 敦也
平野, 貴美
鳴海, 一雅
齋藤, 勇一
山田圭介
千葉敦也
平野貴美
鳴海一雅
齋藤勇一
Author Heading: 平田, 浩一 (産総研)
山田, 圭介
千葉, 敦也
平野, 貴美
鳴海, 一雅
齋藤, 勇一
山田圭介
千葉敦也
平野貴美
鳴海一雅
齋藤勇一
Publication Date: 2018-07-05
Publication Date (W3CDTF): 2018-07-05
Text Language Code: eng
Target Audience: 一般
Note (General): 10th International Symposium on Swift Heavy Ions in Matter & 28th International Conference on Atomic Collisions in Solids
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構学術機関リポジトリ