LETの異なるイオンビームによりBacillus subtilis芽胞に芽胞に誘発される損傷と突然変異の定量

• Material Type: 文書・図像類
• Title: LETの異なるイオンビームによりBacillus subtilis芽胞に芽胞に誘発される損傷と突然変異の定量
• Author/Editor: H., P. Uyen N.; 阪井, 俊夫; 傳, 大輝; 古田, 雅一; 佐藤, 勝也; 大野, 豊; 佐藤 勝也; 大野 豊
• Author Heading: H., P. Uyen N.; 阪井, 俊夫; 傳, 大輝; 古田, 雅一; 佐藤, 勝也; 大野, 豊; 佐藤 勝也; 大野 豊
• Publication Date: 2018-12-11
• Publication Date (W3CDTF): 2018-12-11
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): QST高崎サイエンスフェスタ2018
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: Bacilluｓ属細菌芽胞は、芽胞内膜に存在する発芽レセプターと発芽誘導剤との接触にはじまる発芽と発芽後成長を経て栄養増殖に至る。細菌芽胞の放射線照射によりDNA損傷が生じると、これらの過程のいずれかで修復され、生残する細胞の一部のゲノムDNAには突然変異が生じる可能性がある。芽胞は発芽過程でコア内...