Te(0001)のマイクロARPES

• Material Type: 文書・図像類
• Title: Te(0001)のマイクロARPES
• Author/Editor: 堀場, 弘司; 徳山, 敦也; 中山, 耕輔; 守谷, 歩美; 山内, 邦彦; 菅原, 克明; 北村, 未歩; 組頭, 広志; 高橋, 隆; 小口, 多美夫; 瀬川, 耕司; 佐藤, 宇史; Koji, Horiba
• Author Heading: 堀場, 弘司; 徳山, 敦也; 中山, 耕輔; 守谷, 歩美; 山内, 邦彦; 菅原, 克明; 北村, 未歩; 組頭, 広志; 高橋, 隆; 小口, 多美夫; 瀬川, 耕司; 佐藤, 宇史; Koji, Horiba
• Publication Date: 2021-09-22
• Publication Date (W3CDTF): 2021-09-22
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 日本物理学会 2021年秋季大会
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 : 量子科学技術研究開発機構 学術機関リポジトリ

• Summary, etc.: 本研究では、表面平坦化効果を持つガスクラスターイオンビーム(GCIB)という新たなイオンビーム技術と、微小集光した光源を用いたマイクロARPESを融合することで、劈開困難なTe(0001)表面の電子状態観測を行った。実験には東北大学及びPhoton Factory BL-28Aの高分解能ARPES装...