ディペンダブルVLSIのためのテスト技術

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Summary, etc.：: LSIの信頼性を保証する上で，製造テストは重要な役割を果たしてきた．LSIのテスト技術は，主に設計・製造の立場から技術開発が進んできたが，LSIの利用範囲が広がるにつれて，企画や流通・運用におけるディペンダビリティも求められるようになっている．本講演では，LSIテスト技術の現状とディペンダビリティ向...

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Material Type: 文書・図像類
Title: ディペンダブルVLSIのためのテスト技術
Title Transcription: ディペンダブル VLSI ノタメノテストギジュツ
Author/Editor: 梶原, 誠司
Author Heading: 梶原, 誠司カジハラ, セイジ
Publication, Distribution, etc.: 奈良先端科学技術大学院大学
Publication Date: 2007-11-02
Publication Date (W3CDTF): 2007-11-02
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): 九州工業大学情報工学部電子情報工学科教授
情報科学研究科大講義室
Access Restrictions: インターネット公開
Periodical Title: 情報科学研究科・ゼミナール講演 ; 平成19年度
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 奈良先端科学技術大学院大学 : 奈良先端科学技術大学院大学学術リポジトリnaistar