半導体ナノ構造の電気伝導における揺らぎの定理への測定回路の影響

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Note (General)：: application/pdf2011年度～2013年度科学研究費補助金(若手研究（B）)研究成果報告書23740294

Detailed bibliographic record

Summary, etc.：: 揺らぎの定理は非平衡状態においても普遍的に成り立つ，熱力学第2法則を微小系に拡張する定理であり，近年，量子輸送にも適用されている．本研究では量子導体において，測定回路の揺らぎの定理への影響を理論的に研究した．１）電子波干渉計とLC回路（測定回路）結合系で揺らぎの定理を検討し，測定回路の反作用はむしろ...

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Material Type: 文書・図像類
Title: 半導体ナノ構造の電気伝導における揺らぎの定理への測定回路の影響
Author/Editor: 内海, 裕洋
Author Heading: 内海, 裕洋
Publication, Distribution, etc.: 三重大学
Publication Date: 2014-06-11
Publication Date (W3CDTF): 2014-06-11
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 非平衡・非線形物理学
メゾスコピック量子輸送
半導体ナノ構造
Target Audience: 一般
Note (General): application/pdf
2011年度～2013年度科学研究費補助金(若手研究（B）)研究成果報告書
23740294
Access Restrictions: 限定公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 三重大学 : 三重大学学術機関リポジトリ研究成果コレクション