分析電子顕微鏡によるX線微小部分析法とその応用に関する研究

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第1章序論第2章外挿法の原理第3章外挿法のk因子決定への応用第4章外挿法の相分析への応用第5章 X線吸収差(DXA)法の原理第6章 DXA法による膜厚決定第7章 DXA法の拡散係数測定への応用第8章結論

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Material Type: 博士論文
Title: 分析電子顕微鏡によるX線微小部分析法とその応用に関する研究
Author/Editor: 堀田, 善治
Author Heading: 堀田, 善治ホリタ, ゼンジ
Publication Date: 1991-07-29
Publication Date (W3CDTF): 1991-07-29
Degree grantor/type: 九州大学
Date Granted: 1991-07-29
Dissertation Number: 乙第4986号
Degree Type: 博士（工学）
DOCTOR OF ENGINEERING
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): 主1-参1
工学
DOI: 10.11501/3059383
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Related Material (URI): URI
https://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/3059383
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 九州大学 : 九州大学学術情報リポジトリ