セルベース設計に適したSER評価の為のパルス発生確率解析手法

• Material Type: 文書・図像類
• Title: セルベース設計に適したSER評価の為のパルス発生確率解析手法
• Author/Editor: 小津和, 大昌; 吉村, 正義; 松永, 裕介
• Author Heading: 小津和, 大昌 コズワ, ダイスケ; 吉村, 正義 ヨシムラ, マサヨシ; 松永, 裕介 マツナガ, ユウスケ
• Publication, Distribution, etc.: 電子情報通信学会
• Publication Date: 2009-04-21
• Publication Date (W3CDTF): 2009-04-21
• Alternative Title: Pulse Generation Analysis for SER Estimation Targeted to Cell-based Design.
• Periodical title: IEICE technical report
• No. or year of volume/issue: 109 11
• Volume: 109
• Issue: 11
• Pages: 43-48
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: ソフトエラー; 論理回路; SER; セルベース設計; HSPICEsoft error; logic circuit; cell-based design; HSPICE
• Target Audience: 一般
• Access Restrictions: インターネット公開
• Related Material: 電子情報通信学会技術研究報告. CPSY, コンピュータシステム || 109(11) || p43-48; http://www.c.csce.kyushu-u.ac.jp/SOC/index_j.html
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 九州大学 : 九州大学学術情報リポジトリ

• Summary, etc.: スキャンチェーンを悪用して，暗号LSI上で扱われる秘密情報を特定するスキャンベース攻撃の危険性が指摘されている．スキャンベース攻撃に対する防御法には様々な手法が存在する．回路設計時には，これらの防御法を適用した回路のセキュリティを定量的に評価し，防御法を選択する必要がある．しかしながら，スキャンベー...