90nmCMOS回路における遅延及び電力ばらつきの実測

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2006年電子情報通信学会総合大会, AS-2-5 || || p23-24

2006 IEICE General Conference, AS-2-5 || || p23-24

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Material Type: 文書・図像類
Title: 90nmCMOS回路における遅延及び電力ばらつきの実測
Author/Editor: 山口, 聖貴
Yang, Yuan
樽見, 幸祐
坂本, 良太
室山, 真徳
石原, 亨
安浦, 寛人
Author Heading: 山口, 聖貴ヤマグチ, マサキ
Yang, Yuan
樽見, 幸祐タルミ, コウスケ
坂本, 良太サカモト, リョウタ
室山, 真徳ムロヤマ, マサノリ
石原, 亨イシハラ, トオル
安浦, 寛人ヤスウラ, ヒロト
Publication, Distribution, etc.: 電子情報通信学会
Publication Date: 2006-03
Publication Date (W3CDTF): 2006-03
Alternative Title: Measurement of Delay and Power Variation in 90nm CMOS Circuits
Periodical title: 2006年電子情報通信学会総合大会, AS-2-5
Pages: 23-24
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Access Restrictions: インターネット公開
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2006 IEICE General Conference, AS-2-5 || || p23-24
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Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 九州大学 : 九州大学学術情報リポジトリ