準安定原子誘起電子分光法による最表面電子状態密度抽出：Si,Ni表面上のアルカリ及び酸素吸着

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Material Type: 博士論文
Title: 準安定原子誘起電子分光法による最表面電子状態密度抽出：Si,Ni表面上のアルカリ及び酸素吸着
Author/Editor: 碇, 智徳
Author Heading: 碇, 智徳
Degree grantor/type: 九州工業大学
Date Granted: 2005-03-25
Dissertation Number: 甲第223号
Degree Type: 博士（工学）
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): 九州工業大学博士学位論文　学位記番号:工博甲第223号　学位授与年月日:平成17年3月25日
平成16年度
DOI: 10.18997/00001283
Format (IMT): application/pdf
Source: kou_k_223.pdf （fulltext）
https://kyutech.repo.nii.ac.jp/record/1289/files/kou_k_223.pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 九州工業大学 : キューテイカー