固体表面と極薄水膜界面の原子レベル解析と反応過程の制御

Material type: 文書・図像類

Author: 新井, 豊子ほか

Publisher: 金沢大学理工研究域数物科学系

Publication date: 2019-06-05

Material Format: Digital

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NDC: -

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Note (General)：: 大気中の水蒸気から固体表面上に吸着した数ナノメータ厚の水膜(ナノ水膜)は、強い水和水分子のネットワークを形成し、界面水和層には固体の欠陥を反映した欠陥が存在することを発見した。ナノ水膜は、厚水膜とは異なり、固体的な性質と、液体的性質を併せ持つ「準液体性」でであることを初めて明らかにした。また、本研究...

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Material Type: 文書・図像類
Title: 固体表面と極薄水膜界面の原子レベル解析と反応過程の制御
Author/Editor: 新井, 豊子
Arai, Toyoko
Author Heading: 新井, 豊子
Arai, Toyoko
Publication, Distribution, etc.: 金沢大学理工研究域数物科学系
Publication Date: 2019-06-05
Publication Date (W3CDTF): 2019-06-05
Alternative Title: Atomic level analysis of the interfaces between solid surfaces and ultrathin water films for control of the interface reactions
Periodical title: 平成30(2018)年度科学研究費補助金基盤研究(A) 研究成果報告書 = 2018 Fiscal Year Final Research Report
No. or year of volume/issue: 2016-04-01 - 2019-03-31
Volume: 2016-04-01 - 2019-03-31
Pages: 6p.-
Text Language Code: jpn
Subject Heading: ナノ水膜
水固体界面
周波数変調原子間力顕微鏡
Target Audience: 一般
Note (General): 大気中の水蒸気から固体表面上に吸着した数ナノメータ厚の水膜(ナノ水膜)は、強い水和水分子のネットワークを形成し、界面水和層には固体の欠陥を反映した欠陥が存在することを発見した。ナノ水膜は、厚水膜とは異なり、固体的な性質と、液体的性質を併せ持つ「準液体性」でであることを初めて明らかにした。また、本研究で開発した周波数変調原子間力顕微鏡(FM-AFM)を用いて、ナノ水膜/固体界面構造を原子・分子分解能で観察に成功した。
The water vapor in the air can cover solid surfaces in a thickness of a few nm, which is named “nanometer-thick water film”. We found that a firm network of water molecules was formed in the hydration layers of the nanometer-thick water film on the solid surface. In addition, defective structures of the network persisted from the first hydration layer to the second hydration layer over the solid surface. The nanometer-thick water film was revealed to be “quasi-liquid” over the solid surface, which means the intermediate state between solid and liquid. Using the frequency modulation atomic force microscope (FM-AFM) developed in this research, we successfully obtained images of the network over the surface with atomic and molecular resolutions.
研究課題/領域番号:16H02076, 研究期間(年度):2016-04-01 - 2019-03-31
出典：研究課題「固体表面と極薄水膜界面の原子レベル解析と反応過程の制御」課題番号16H02076（KAKEN：科学研究費助成事業データベース（国立情報学研究所））（https://kaken.nii.ac.jp/report/KAKENHI-PROJECT-16H02076/16H02076seika/）を加工して作成
DOI: 10.24517/00054745
Source: https://kanazawa-u.repo.nii.ac.jp/?action=repository_action_common_download&item_id=48423&item_no=1&attribute_id=26&file_no=1
https://kanazawa-u.repo.nii.ac.jp/?action=repository_action_common_download&item_id=48423&item_no=1&attribute_id=26&file_no=1
Access Restrictions: 限定公開
Rights (production): CC BY-NC-ND
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https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-16H02076/
https://kaken.nii.ac.jp/report/KAKENHI-PROJECT-16H02076/16H02076seika/
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 金沢大学 : 金沢大学学術情報リポジトリKURA