10eV領域での電荷移行反応の微分断面積測定

Material type: 文書・図像類

Author: 伊藤, 陽

Publisher: 城西大学

Publication date: 1996-03

Material Format: Digital

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Note (General)：: type:text1.実験装置既存の交叉ビ-ム法を用いたイオン衝突装置に,小型電子ビ-ム型イオン源(EBIS)を新たに製作・設置し,低エネルギ-領域(10eV)における一電子移行過程の微分断面積測定を開始した.製作したEBISは,電子収束用の磁場内に置かれた電子銃・イオン化領域・イオン引出し部・イ...

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Material Type: 文書・図像類
Title: 10eV領域での電荷移行反応の微分断面積測定
Author/Editor: 伊藤, 陽
Author Heading: 伊藤, 陽
Publication, Distribution, etc.: 城西大学
Publication Date: 1996-03
Publication Date (W3CDTF): 1996-03
Alternative Title: 10eV リョウイキデノデンカイコウハンノウノビブンダンメンセキソクテイ
Differential cross section measurements for charge-transfer reaction at 10eV region
Periodical title: 科学研究補助金研究成果報告書
No. or year of volume/issue: 一般研究(C) 研究課題番号6640530
Volume: 一般研究(C)
Issue: 研究課題番号6640530
Text Language Code: jpn
Subject Heading: Charge-transfer process
Differential cross section
Low energy collision
Multi-charged ion
低エネルギ-衝突
多価イオン
微分断面積
電荷移行反応
Target Audience: 一般
Note (General): type:text
1.実験装置既存の交叉ビ-ム法を用いたイオン衝突装置に,小型電子ビ-ム型イオン源(EBIS)を新たに製作・設置し,低エネルギ-領域(10eV)における一電子移行過程の微分断面積測定を開始した.製作したEBISは,電子収束用の磁場内に置かれた電子銃・イオン化領域・イオン引出し部・イオン輸送系から構成されており、これらは到達真空度2×10^<-10>Torr以下の超高真空槽内に配置されている.これにより,C,N,Oについては1?5価イオンが,またArについては1?9価イオンがこれまでの所得られている.質量分析した後のイオン強度は,O^<2+>,O^<3+>については0.1nA程度であったが,エネルギ-選別・コリメ-トし,更に10eV領域まで減速すると,実験に用いることのできるビ-ム強度は1pA程度まで減少してしまう.しかしこの強度は,同種の実験に於いて使われてきた加速器を用いた反跳イオン源によって生成されるビ-ムの強度と同程度かそれ以上であり,低エネルギ-多価イオン衝突実験が小規模の施設でも可能となったことの実験的な意義は大きい.また,EBISによって得られたビ-ムは,その内部状態がほとんど基底状態にあることが知られており,この点も反跳イオン源を用いた実験よりも優れている. 2.測定結果 EBISにより生成されたO^<2+>イオンを用いO^<2+>-He系での一電子移行過程の微分断面積をE_<cm>=10eVで測定した.従来型のイオン検出器を用いての測定であったため,測定されたO^+の角度分布に構造は見られたものの統計精度が十分でなく,理論計算との詳細な比較はできていない.検出効率を向上させた位置敏感型検出器を用いることが決定的に重要であることがわかり,その設計に着手した.
平成7年度科学研究費補助金一般研究(C)研究成果報告書，研究課題番号：6640530，研究期間：1994年度～1995年度，研究分野：物理学一般, 研究者番号：10159923. 研究種目：一般研究(C)，研究機関：城西大学 11, 図11p.
identifier:JOS-kaken6640530
Format (IMT): application/pdf
Source: https://libir.josai.ac.jp/il/user_contents/02/G0000284repository/pdf/JOS-kaken6640530.pdf
https://libir.josai.ac.jp/il/user_contents/02/G0000284repository/pdf/JOS-kaken6640530.pdf
Access Restrictions: 限定公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 城西大学 : JURA　城西大学機関リポジトリ