表面アトムプロセス評価装置の設計・製作

• Material Type: 文書・図像類
• Title: 表面アトムプロセス評価装置の設計・製作
• Author/Editor: 寺岡 有殿; 吉越 章隆
• Author Heading: 寺岡 有殿; 吉越 章隆
• Publication Date: 2001-03
• Publication Date (W3CDTF): 2001-03
• Alternative Title: Design and manufacture of apparatus for analysis of atomic process on solid surfaces
• Periodical title: JAERI-Tech 2001-009
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 固体表面上で起きる化学反応を原子・分子レベルで解析することを目的として、SPring-8表面アトムプロセス評価装置を設計・製作した。本装置の目的は、反応初期の固体表面及び吸着表面の原子配列の解析並びにこれらの表面原子の持つ電子状態を走査型トンネル顕微鏡(STM)及び原子間顕微鏡(AFM)を用いて超高真空中(UHV)において原子分解能で明らかにすることである。本報告は、SPring-8表面アトムプロセス評価装置の設計・製作に関する技術情報を詳細に述べる。
• Source: /JAERI-Tech-2001-009.pdf （fulltext）; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-Tech-2001-009.pdf
• Access Restrictions: 限定公開
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• Summary, etc.: 固体表面上で起きる化学反応を原子・分子レベルで解析することを目的として、SPring-8表面アトムプロセス評価装置を設計・製作した。本装置の目的は、反応初期の固体表面及び吸着表面の原子配列の解析並びにこれらの表面原子の持つ電子状態を走査型トンネル顕微鏡(STM)及び原子間顕微鏡(AFM)を用いて超高...