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Bibliographic Record
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- Material Type
- 規格・テクニカルリポート類
- Title
- Author/Editor
- 三上 智江花 稔小林 博英
- Publication Date
- 1997-12
- Publication Date (W3CDTF)
- 1997
- Alternative Title
- None
- Periodical title
- PNC TN8410 98-018
- Target Audience
- 一般
- Note (General)
- 出版タイプ： NA安全管理部計測機器校正施設内には、事業所内の放射線管理用機器や個人線量計及び他事業所の基準線量計などを線源校正するための照射室及び照射装置が設けられている。より信頼性の高い照射を行うためには、使用する装置の特性をよく把握しておくことが必要である。照射装置に関しては、照射装置の照射口シャッターの開閉動作に伴うシャッター端効果などのため短時間の積算照射を行う場合は不確かの程度が大きくなるので、装置に応じて要求する不確かさを実現できる使用条件を明らかにしておく必要がある。今回は計測機器校正施設内で最も使用頻度の高い照射室(A)内セシウム照射装置に関して、その照射の際にシャッター開閉に伴う不確かさを0.1\%(包含係数 1)K=2)に抑えるべく標記の試験を実施した。その結果、照射時間を少なくとも220秒以上とすれば、照射時間に対するセシウム照射装置のシャッター開閉時間に係わる不確かさを0.1\%(包含係数 1)K=2)以下に抑えられることがわかった。None
- Source
- /PNC-TN8410-98-018.pdf （fulltext）