サイクロトロンにおけるビーム走査法を用いた均一照射システム

• Material Type: 文書・図像類
• Title: サイクロトロンにおけるビーム走査法を用いた均一照射システム
• Author/Editor: 上松 敬; 奥村 進; 荒川 和夫
• Author Heading: 上松 敬; 奥村 進; 荒川 和夫
• Publication Date: 1994-03
• Publication Date (W3CDTF): 1994-03
• Alternative Title: Uniform irradiation system using beam scanning method for cyclotron
• Periodical title: JAERI-M 94-071
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 原研AVFサイクロトロンには、イオンビームを大面積に照射するためのスキャナが設置されている。CTAフィルム線量計を用いて得られたイオンビームの二次元フルエンス分布は、必ずしも均一ではなかった。これは、ビームスキャナ電磁石の励磁電源の出力波形の歪みに起因するものであり、良い均一度を得るためのビームスキャニング条件が限られていることがわかってきた。そこで、コンピュータを用いたビームスキャニングのシミュレータを開発し、シミュレーションされたフルエンス分布と、実測分布データとの比較を行った。その結果、シミュレーションと実測データの両者は良く一致し、シミュレータにより、良い均一度を得るためのビームスキャニング条件を明らかにした。これらの結果に基づき、スキャナ電源の改造を行い、均一度の良いフルエンス分布が得られるようになった。
• Source: /JAERI-M-94-071.pdf/ comment：fulltext; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-M-94-071.pdf
• Access Restrictions: 限定公開
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• Summary, etc.: 原研AVFサイクロトロンには、イオンビームを大面積に照射するためのスキャナが設置されている。CTAフィルム線量計を用いて得られたイオンビームの二次元フルエンス分布は、必ずしも均一ではなかった。これは、ビームスキャナ電磁石の励磁電源の出力波形の歪みに起因するものであり、良い均一度を得るためのビームスキ...