超高輝度マイクロビームのエミッタンス測定

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Note (General)：: 高輝度、低エミッタンスのマイクロエミッターからの電子ビームのエミッタンス測定法について考察し、新しいエミッタンス測定法を提案する。

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Summary, etc.：: 高輝度、低エミッタンスのマイクロエミッターからの電子ビームのエミッタンス測定法について考察し、新しいエミッタンス測定法を提案する。(Provided by: 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）)

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Material Type: 文書・図像類
Title: 超高輝度マイクロビームのエミッタンス測定
Author/Editor: 石塚浩
中原百合子
川崎温
Musyoki, S.
清水宏
渡辺聡彦
志甫諒
Author Heading: 石塚浩
中原百合子
川崎温
Musyoki, S.
清水宏
渡辺聡彦
志甫諒
Publication Date: 1994-03
Publication Date (W3CDTF): 1994-03
Alternative Title: A New method of emittance measurement for electron beams from the micro-emitter
Periodical title: JAERI-M 94-047
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): 高輝度、低エミッタンスのマイクロエミッターからの電子ビームのエミッタンス測定法について考察し、新しいエミッタンス測定法を提案する。
Source: /JAERI-M-94-047.pdf （fulltext）
https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-M-94-047.pdf
Access Restrictions: 限定公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System