電子線のエネルギー後方散乱と薄層の吸収線量

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Note (General)：: 加速電圧0.8MeVから1.5MeVまでの電子線に対して、今まで行われた各種元素に対する後方散乱の報告をまとめて検討するとともに通常用居られている照射容器(あるいは基板)の上に置かれた薄層の吸収線量をエネルギー後方散乱を考慮して測定し、数値表としてまとめたものである。

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Summary, etc.：: 加速電圧0.8MeVから1.5MeVまでの電子線に対して、今まで行われた各種元素に対する後方散乱の報告をまとめて検討するとともに通常用居られている照射容器(あるいは基板)の上に置かれた薄層の吸収線量をエネルギー後方散乱を考慮して測定し、数値表としてまとめたものである。(Provided by: 学術...

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Material Type: 文書・図像類
Title: 電子線のエネルギー後方散乱と薄層の吸収線量
Author/Editor: 松田光司
来島利幸
Author Heading: 松田光司
来島利幸
Publication Date: 1987-10
Publication Date (W3CDTF): 1987-10
Alternative Title: Energy backscattering of electron beams and absorbed dose in thin layer
Periodical title: JAERI-M 87-170
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): 加速電圧0.8MeVから1.5MeVまでの電子線に対して、今まで行われた各種元素に対する後方散乱の報告をまとめて検討するとともに通常用居られている照射容器(あるいは基板)の上に置かれた薄層の吸収線量をエネルギー後方散乱を考慮して測定し、数値表としてまとめたものである。
Source: /JAERI-M-87-170.pdf （fulltext）
https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-M-87-170.pdf
Access Restrictions: 限定公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System