照射済Triso被覆UO2粒子のEPMA-(II)

• Material Type: 文書・図像類
• Title: 照射済Triso被覆UO2粒子のEPMA-(II)
• Author/Editor: 湊 和生; 小川 徹; 福田 幸朔; 井川 勝市; 岩本 多實
• Author Heading: 湊 和生; 小川 徹; 福田 幸朔; 井川 勝市; 岩本 多實
• Publication Date: 1984-02
• Publication Date (W3CDTF): 1984-02
• Alternative Title: Electron Probe Micro-Analysis of Irradiated Triso-Coated UO2 Particles,-(II)
• Periodical title: JAERI-M 84-002
• Text Language Code: eng
• Target Audience: 一般
• Note (General): 照射済Triso被覆UO2粒子をEPMAを用いて観察した。この実験は、初歩的なものであったが、パラジウウムのSiC層内面における蓄積、およびSiC層中への進入が見られた。パラジウム量が1粒子あたり1.1$\times$10$^{1}$$^{5}$~3.6$\times$10$^{1}$$^{5}$atom/particleの粒子において、パラジウムのSiC層内面における蓄積が見られた。パラジウムの蓄積は、粒子の高温側でも低温側でも見られたが、蓄積量および蓄積個所は、低温側の方が多かった。セリウム、テルル、およびバリウムは、バッファーPyC層中ばかりでなく、SiC層内面でも検出された。被覆層中の塩素の検出を試みたが、使用した樹脂に塩素が含まれていたため、妨害された。
• Source: /JAERI-M-84-002.pdf （fulltext）; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-M-84-002.pdf
• Access Restrictions: 限定公開
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• Summary, etc.: 照射済Triso被覆UO2粒子をEPMAを用いて観察した。この実験は、初歩的なものであったが、パラジウウムのSiC層内面における蓄積、およびSiC層中への進入が見られた。パラジウム量が1粒子あたり1.1$\times$10$^{1}$$^{5}$~3.6$\times$10$^{1}$$^{5}$a...