高温・低密度プラズマにおける,炭素,酸素,鉄のDielectronic Recombination

• Material Type: 文書・図像類
• Title: 高温・低密度プラズマにおける,炭素,酸素,鉄のDielectronic Recombination
• Author/Editor: 中村 幸治; 河西 敏; 田島 輝彦
• Author Heading: 中村 幸治; 河西 敏; 田島 輝彦
• Publication Date: 1977-03
• Publication Date (W3CDTF): 1977-03
• Alternative Title: Dielectric Recombination of Carbon,Oxygen and Iron in Low-Density High Temperature Plasmas
• Periodical title: JAERI-M 7019
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 高温、低密度プラズマにおいて、非常に重要なdielectronic recombinationを、プラズマの密度およびradiation fieldによる影響を無視し半古典的な手法を用いて考察した。又、特にトカマクプラズマで、プラズマ抵抗やエネルギー損失に大きな影響を与える、炭素、酸素、鉄についてのrate係数を計算した。さらに、Z≦20の不完全電離イオンについて成立する非常に簡単なBurgessの表現による結果と比較検討した。その結果、Z~25程度までの不完全電離イオンに対してもBurgessの近似式は実用上十分な精度で使用できると考えられる。本報告では除外したが、我々の考察によりモリブデン等のさらに多価の金属元素のrate係数を求めることも可能である。
• Source: /JAERI-M-7019.pdf （fulltext）; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-M-7019.pdf
• Access Restrictions: 限定公開
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• Summary, etc.: 高温、低密度プラズマにおいて、非常に重要なdielectronic recombinationを、プラズマの密度およびradiation fieldによる影響を無視し半古典的な手法を用いて考察した。又、特にトカマクプラズマで、プラズマ抵抗やエネルギー損失に大きな影響を与える、炭素、酸素、鉄についての...