トカマクプラズマ診断用直視干渉測定装置

• Material Type: 文書・図像類
• Title: トカマクプラズマ診断用直視干渉測定装置
• Author/Editor: 船橋 昭昌; 高橋 興起; 下村 安夫; 狐崎 晶雄; 永島 孝; 熊谷 勝昭
• Author Heading: 船橋 昭昌; 高橋 興起; 下村 安夫; 狐崎 晶雄; 永島 孝; 熊谷 勝昭
• Publication Date: 1975-07
• Publication Date (W3CDTF): 1975-07
• Alternative Title: Fringe-Shift Interferometic Apparatus for Tokamak-Plasma Diagnostics
• Periodical title: JAERI-M 6166
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): 卜カマクプラズマ診断用フリンジシフト直視干渉測定装置を製作した。この装置は、非円形断面トカマク装置JFT-2a内の電子密度を測定するための、75-GH$_{Z}$帯ゼブラ縞干渉計である。本装置は、5本の干渉縞が生成されるように、また1フリンジの10分の1のシフト量まで検出できるような設計を行った。本装置は、KA-701Aクライストロン(出力:400mV)、75-GH$_{Z}$帯マイクロ波回路、遅延線路(長さ:17m)、ミリ波収束用レンズ、プラズマスパッタリング防止用シャッターおよびゼブラ縞生成用電子回路から形成されている。本測定装置は、昨年9月以来JFT-2aプラズマの診断に用いられており、本測定装置によりJFT-2a装置の中心部で約10$^{1}$$^{3}$cm$^{-}$$^{3}$なる電子密度が実現されていることが確認できた。
• Source: /JAERI-M-6166.pdf （fulltext）; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/JAERI-M-6166.pdf
• Access Restrictions: 限定公開
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• Summary, etc.: 卜カマクプラズマ診断用フリンジシフト直視干渉測定装置を製作した。この装置は、非円形断面トカマク装置JFT-2a内の電子密度を測定するための、75-GH$_{Z}$帯ゼブラ縞干渉計である。本装置は、5本の干渉縞が生成されるように、また1フリンジの10分の1のシフト量まで検出できるような設計を行った。本...