SOLAR-C向け超高精度太陽センサ(試作品)のランダム誤差とリニアリティ誤差

• Material Type: 文書・図像類
• Title: SOLAR-C向け超高精度太陽センサ(試作品)のランダム誤差とリニアリティ誤差
• Author/Editor: 鄭, 祥子; 長谷川, 隆祥; 藤島, 早織; 合田, 雄哉; 村尾, 一; 吉田, 南; 清水, 敏文; 久保, 雅仁; 津野, 克彦
• Author Heading: 鄭, 祥子; 長谷川, 隆祥; 藤島, 早織; 合田, 雄哉; 村尾, 一; 吉田, 南; 清水, 敏文; 久保, 雅仁; 津野, 克彦
• Publication, Distribution, etc.: 宇宙航空研究開発機構 (JAXA)
• Publication Date: 2024-02-13
• Publication Date (W3CDTF): 2024-02-13
• Alternative Title: Random and Linearity Errors of the Ultra Fine Sun Sensor (Breadboard Model) for SOLAR-C
• Periodical title: 宇宙航空研究開発機構研究開発報告
• No. or year of volume/issue: JAXA-RR-23-002
• Volume: JAXA-RR-23-002
• ISSN (Periodical Title): EISSN : 2433-2216
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: SOLAR-C; EUVST; UFSS; random error; linearity error
• Target Audience: 一般
• Note (General): 高空間分解能の太陽観測を行うSOLAR-C 衛星には高い衛星ボディ制御が要求され、その要求実現において超高精度太陽センサUFSS (Ultra Fine Sun Sensor)の性能が重要である。本論文は、UFSS の試作モデルのランダム誤差およびリニアリティ誤差に関する評価結果について報告する。ランダム誤差は0.3"以下(σ値)であり目標精度を達成していることが確認できた。また、リニアリティ誤差については当初、感度方向に沿って急峻に変化する角度が複数あり、これが原因でリニアリティ誤差の較正後も目標精度[視野1°×１°に対して2”以下(p-p 値)]を達成できない可能性があった。この急峻な変化は、出力波形の形状からCCD カバーガラス上の塵/傷に起因することが示唆され、製造過程におけるコンタミネーション管理の重要性が判明した。CCD カバーガラス上の塵を特定し清掃した結果、リニアリティ誤差の急峻な変化は低減され、較正後に目標精度を達成できる見通しが立った。; The SOLAR-C satellite, which key scientific performance is to observe the Sun with high spatial resolution, is required to have high-pointing body control and its achievement highly depends on the performance of the Ultra Fine Sun Sensor (UFSS). This article reports the evaluation results of random error and linearity error acquired with a breadboard model of UFSS. The random error was evaluated to be less than 0.3"(σ), which is within the goal accuracy for the random error. Regarding the linearity error, the initial model showed a steep change at some locations along the sensitivity direction, which may prevent the goal accuracy for the linearity [Less than 2” (p-p) for 1 deg x 1 deg field of view] from being achieved even after adapting a linearity error correction. The shapes of the output waveform suggested that this steep change was caused by dust/scratches on the CCD cover glass, indicating the importance of contamination control in the manufacturing. After identifying the locations of dusts on the CCD cover glass and cleaning them, the steep change in linearity error was reduced. This improvement is a great step toward the achievement of the goal accuracy for the linearity with the correction.; 形態: カラー図版あり; Physical characteristics: Original contains color illustrations; レポート番号: JAXA-RR-23-002
• DOI: 10.20637/0002000244
• Format (IMT): application/pdf
• Access Restrictions: インターネット公開
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 宇宙航空研究開発機構 : 宇宙航空研究開発機構リポジトリ

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