容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法

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Material Type: 博士論文
Title: 容量-周波数-温度マッピングによるワイドキャップ金属-絶縁体-半導体デバイスの解析手法
Author/Editor: Shih, Hong-An
Author Heading: Shih, Hong-An
Publication Date: 2014-09
Publication Date (W3CDTF): 2014-09
Degree grantor/type: 北陸先端科学技術大学院大学
Date Granted: 2014-09-24
Dissertation Number: 甲第829号
Degree Type: 博士（マテリアルサイエンス）
Text Language Code: eng
Subject Heading: wide-gap MIS devices
C-V characteristics
frequency dispersion
C-f-T mapping
interface states
AlGaN/GaN
Target Audience: 一般
Note (General): Supervisor:鈴木　寿一
identifier:https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/handle/10119/12308
Format (IMT): application/pdf
Source: fulltext
https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/12308/11/abstract.pdf
fulltext
https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/12308/12/paper.pdf
fulltext
https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/12308/1/summary.pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 北陸先端科学技術大学院大学 : JAIST学術研究成果リポジトリ