界面ポテンシャル逐次測定法の開発によるイオン拡散の可視化

Material type: 文書・図像類

Author: 大島, 義文

Publisher: -

Publication date: 2017-06-02

Material Format: Digital

Capacity, size, etc.: -

NDC: -

View All

Notes on use

Note (General)：: 透過型電子顕微鏡 (TEM) 像に強度輸送方程式を適用することで、異相界面の静電ポテンシャル分布の可視化、および、それに基づいたイオン拡散の様子を明らかにする目的で研究を推進した。静電ポテンシャル分布を得るため、アンダーフォーカス、インフォーカス、オーバーフォーカスの3枚のTEM像から、a-Ge膜/...

Search by Bookstore

Holdings of Libraries in Japan

This page shows libraries in Japan other than the National Diet Library that hold the material.

List of Cooperating Institutions and Databases

Please contact your local library for information on how to use materials or whether it is possible to request materials from the holding libraries.

other

JAIST Repository
Digital
You can check the holdings of institutions and databases with which 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ） is linked at the site of 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）.
JAIST Repository

Search by Bookstore

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Digital

Material Type: 文書・図像類
Title: 界面ポテンシャル逐次測定法の開発によるイオン拡散の可視化
Author/Editor: 大島, 義文
Author Heading: 大島, 義文
Publication Date: 2017-06-02
Publication Date (W3CDTF): 2017-06-02
Alternative Title: Visualization of ion diffusion process at interface by sequential measurement method of electrostatic potential
Periodical title: 科学研究費助成事業研究成果報告書
Pages: 1-4
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 透過型電子顕微鏡
位相情報
静電ポテンシャル
イオン拡散
Target Audience: 一般
Note (General): 透過型電子顕微鏡 (TEM) 像に強度輸送方程式を適用することで、異相界面の静電ポテンシャル分布の可視化、および、それに基づいたイオン拡散の様子を明らかにする目的で研究を推進した。静電ポテンシャル分布を得るため、アンダーフォーカス、インフォーカス、オーバーフォーカスの3枚のTEM像から、a-Ge膜/真空界面における静電ポテンシャル分を得ることに成功した。これを実現するため、ホワイトノイズの低周波数成分が強調されるという課題の解決、および、2相界面のTEM像という周期的境界条件が満たされていない像に強度輸送方程式を適用するための課題を解決することを行った。：In order to clarify the visualization of the electrostatic potential distribution at the interfaces of two different phases and find the local ion diffusion at the interface, intensity transport equations was applied to the transmission electron microscope (TEM) images. We succeeded in obtaining the electrostatic potential at the a-Ge film / vacuum interface from the three TEM images of under focus, in focus and over focus. Actually, we solved the problem that the low frequency component of white noise is emphasized in the TIE phase map by narrower region of interest, and also solved the problem that the intensity transport equation could not be applied to the image not satisfying the periodic boundary condition such as TEM image of two phase interface by mirroring method.
挑戦的萌芽研究
研究期間：2015～2016
課題番号：15K13622
研究者番号：80272699
研究分野：表面界面物性
identifier:https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/handle/10119/14319
Format (IMT): application/pdf
Source: https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/14319/1/15K13622seika.pdf
https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/14319/1/15K13622seika.pdf
Access Restrictions: 限定公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 北陸先端科学技術大学院大学 : JAIST学術研究成果リポジトリ