多端子ホール測定および高周波測定によるオーミック金属下半導体の特性評価法とその応用

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Material Type: 博士論文
Title: 多端子ホール測定および高周波測定によるオーミック金属下半導体の特性評価法とその応用
Author/Editor: 瓜生, 和也
Author Heading: 瓜生, 和也
Publication Date: 2023-03
Publication Date (W3CDTF): 2023-03
Degree grantor/type: 北陸先端科学技術大学院大学
Date Granted: 2023-03-24
Dissertation Number: 甲第1390号
Degree Type: 博士(マテリアルサイエンス)
Text Language Code: jpn
Subject Heading: Ohmic contact
multi-probe Hall measurement
transmission line model
n-GaN
Al- GaN/GaN heterostructure
Target Audience: 一般
Note (General): Supervisor: 鈴木寿一
先端科学技術研究科
博士
identifier:https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/handle/10119/18431
Format (IMT): application/pdf
Source: fulltext
https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/18431/7/abstract.pdf
fulltext
https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/18431/8/paper.pdf
fulltext
https://dspace.jaist.ac.jp/dspace/bitstream/10119/18431/5/summary.pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 北陸先端科学技術大学院大学 : JAIST学術研究成果リポジトリ