強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について

Material type: 文書・図像類

Author: 岡本, 直己ほか

Publisher: 情報処理学会

Publication date: 2003-11-27

Material Format: Digital

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Material Type: 文書・図像類
Title: 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について
Author/Editor: 岡本, 直己
市原, 英行
井上, 智生
細川, 利典
藤原, 秀雄
OKAMOTO, Naoki
ICHIHARA, Hideyuki
INOUE, Tomoo
HOSOKAWA, Toshinori
FUJIWARA, Hideo
Author Heading: 岡本, 直己
市原, 英行
井上, 智生
細川, 利典
藤原, 秀雄
OKAMOTO, Naoki
ICHIHARA, Hideyuki
INOUE, Tomoo
HOSOKAWA, Toshinori
FUJIWARA, Hideo
Publication, Distribution, etc.: 情報処理学会
Publication Date: 2003-11-27
Publication Date (W3CDTF): 2003-11-27
Alternative Title: An Improvement of the Test Plan Generation Algorithm for Strongly Testable Datapaths
Periodical title: 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]
No. or year of volume/issue: 2003 120
Volume: 2003
Issue: 120
Pages: 43-48
ISSN (Periodical Title): ISSN : 09196072
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): application/pdf
Format (IMT): application/pdf
Source: 110002687599.pdf
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/record/1749/files/110002687599.pdf
Access Restrictions: 限定公開
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http://www.ipsj.or.jp/
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 広島市立大学 : 広島市立大学学術リポジトリ