組合せテスト生成可能な順序回路の新しいクラスの提案とそれに基づくテスト生成法・テスト容易化設計法について

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Material Type: 文書・図像類
Title: 組合せテスト生成可能な順序回路の新しいクラスの提案とそれに基づくテスト生成法・テスト容易化設計法について
Author/Editor: 岡, 伸也
OOI, Chia Yee
市原, 英行
井上, 智生
藤原, 秀雄
OKA, Nobuya
ICHIHARA,Hideyuki, Hideyuki
INOUE, Tomoo
FUJIWARA, Hideo
Author Heading: 岡, 伸也
OOI, Chia Yee
市原, 英行
井上, 智生
藤原, 秀雄
OKA, Nobuya
ICHIHARA,Hideyuki, Hideyuki
INOUE, Tomoo
FUJIWARA, Hideo
Publication, Distribution, etc.: [広島市立大学]
Pages: 1-22
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): application/pdf
Format (IMT): application/pdf
Source: proposal.pdf
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/record/1809/files/proposal.pdf
Access Restrictions: 限定公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 広島市立大学 : 広島市立大学学術リポジトリ