Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices

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Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices

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Material Type: 博士論文
Title: Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices
Author/Editor: Peter, SARSON
Author Heading: Peter, SARSON
Publication, Distribution, etc.: 群馬大学大学院理工学府
Publication Date: 2018-11-30
Publication Date (W3CDTF): 2018-11-30
Alternative Title: アナログ/ミクスト信号集積回路テスト技術の開発 – 半導体デバイスのテストでの品質・信頼性向上とコスト低減
Degree grantor/type: 群馬大学
Date Granted: 2018-11-30
Dissertation Number: 乙第11号
Degree Type: 博士（理工学）
Text Language Code: eng
Subject Heading: LSI Test
LSI試験
Semiconductor
半導体
Analog Circuit
アナログ回路
Mixed-Signal IC
ミックスト信号集積回路
Target Audience: 一般
Note (General): Thesis or Dissertation
学位記番号：理工博乙11号
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 国立大学法人群馬大学 : 群馬大学リポジトリ