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IEC試験方法による試験技術の確立に関する試験研究成果報告書 : 電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン

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IEC試験方法による試験技術の確立に関する試験研究成果報告書 : 電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン

Material type
図書
Author
日本電子部品信頼性センタ- 編
Publisher
日本電子部品信頼性センタ-
Publication date
198203
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
90p ; 26cm
Collection
-
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Material Type
図書
Title Transcription
アイイ-シ- シケン ホウホウ ニ ヨル シケン ギジュツ ノ カクリツ ニ カンスル シケン ケンキュウ セイカ ホウコクショ : デンシ ブヒン トウ ノ バッドコネクション シケン ニ カンスル ガイドライン
Author/Editor
日本電子部品信頼性センタ- 編
Title Heading
IEC試験方法による試験技術の確立に関する試験研究成果報告書 アイイ-シ- シケン ホウホウ ニ ヨル シケン ギジュツ ノ カクリツ ニ カンスル シケン ケンキュウ セイカ ホウコクショ
Author Heading
日本電子部品信頼性センタ- ニホン, デンシ, ブヒン, シンライセイ, センタ-
Publication Date
198203
Publication Date (W3CDTF)
1982
Extent
90p ; 26cm