Search by Bookstore
Table of Contents
79(12) 1996.12
- テスティング技術論文特集
p.1007~1217
- ゲートレベル組合せ回路の単一論理設計誤りに対する診断手法 (テスティング技術論文特集)
p.1009~1016
- 低消費電力設計とそのテスタビリティに関する考察 (テスティング技術論文特集)
p.1030~1036
- 部分回路除去に対する含意関係の不変性について (テスティング技術論文特集)
p.1037~1045
Search by Bookstore
Bibliographic Record
You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.
- Material Type
- 雑誌
- ISSN
- 0915-1915
- ISSN-L
- 0915-1915
- Title
- Title Transcription
- デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ ロンブンシ
- Volume
- D-11(通号300) 1996年12月
- Part Title
- 情報・システム情報処理
- Author/Editor
- 電子情報通信学会 編
- Author Heading
- 電子情報通信学会 デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ ( 00258121 )Authorities
- Publication, Distribution, etc.