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Table of Contents
80(10) 1997.10
- Sn-5wt%Sb合金の融点および金属組織に及ぼすPb不純物の影響
p.319~329
- 鉄拡散を用いたGaAs pnp構造の電荷蓄積特性
p.330~334
- LSIの静電破壊因子とその新計測方法
p.335~344
- 記録・再生等化による8/10MSN符号化PRML方式のSN比改善
p.345~351
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 雑誌
- ISSN
- 0915-1907
- ISSN-L
- 0915-1907
- Title
- Title Transcription
- デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ ロンブンシ
- Volume
- C-2280巻10号(通号106) 1997年10月
- Part Title
- エレクトロニクス電子素子・応用
- Author/Editor
- 電子情報通信学会 編
- Author Heading
- 電子情報通信学会 デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ ( 00258121 )Authorities
- Publication, Distribution, etc.