半導体デバイスの信頼性に関する文献動向調査(電子部品の信頼性向上に関する調査研究成果報告書 ; 昭和55年度,昭和56年度)

Call No. (NDL): ND371-183
Bibliographic ID of National Diet Library: 000001723307

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〔2〕

〔1〕

Material type: 図書

Author: 日本電子部品信頼性センター

Publisher: 日本電子部品信頼性センター

Publication date: 1981.3-1982.3

Material Format: Paper・Digital

Capacity, size, etc.: 2冊 ; 26cm

NDC: 549.8

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- プレーンテキスト国立国会図書館

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Paper Digital

Material Type: 図書
Title: 半導体デバイスの信頼性に関する文献動向調査
Title Transcription: ハンドウタイデバイスノシンライセイニカンスルブンケンドウコウチョウサ
Series Title: 電子部品の信頼性向上に関する調査研究成果報告書 ; 昭和55年度,昭和56年度
Author Heading: 日本電子部品信頼性センターニホンデンシブヒンシンライセイセンター ( 00293467 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本電子部品信頼性センター
Publication Date: 1981.3-1982.3
Publication Date (W3CDTF): 1981
1982
Extent: 2冊
Size: 26cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 半導体ハンドウタイ ( 00562913 )Authorities
NDC 8th ed.: 549.8
NDLC: ND371
Target Audience: 一般
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (Materials For Handicapped People:2): プレーンテキスト
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 図書
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00001
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: ND371-183
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000001723307
http://id.ndl.go.jp/bib/000001723307
National Bibliography No. (JPNO): 85027437
Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111