半導体デバイスの品質認証のための共通仕様書に関するガイドライン

半導体デバイスの品質認証のための共通仕様書に関するガイドライン

Call No. (NDL): Y95-85C1470
Bibliographic ID of National Diet Library: 000001760002

Material type: 図書

Author: -

Publisher: 日本電子部品信頼性センター

Publication date: 1984.3

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 35p ; 30cm

NDC: 549.8

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type: 図書
Title: 半導体デバイスの品質認証のための共通仕様書に関するガイドライン
Title Transcription: ハンドウタイデバイスノヒンシツニンショウノタメノキョウツウシヨウショニカンスルガイドライン
Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本電子部品信頼性センター
Publication Date: 1984.3
Publication Date (W3CDTF): 1984
Extent: 35p
Size: 30cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDC 8th ed.: 549.8
Target Audience: 一般
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y95-85C1470
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000001760002
http://id.ndl.go.jp/bib/000001760002
National Bibliography No. (JPNO): 85064162
Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 117