半導体デバイスの静電気破壊現象とその評価方法に関するガイドライン附属書

半導体デバイスの静電気破壊現象とその評価方法に関するガイドライン. 附属書

Call No. (NDL): ND371-E12
Bibliographic ID of National Diet Library: 000001967673

Material type: 図書

Author: 日本電子部品信頼性センター

Publisher: 日本電子部品信頼性センター

Publication date: 1988.3

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 34p ; 26cm

NDC: 549.8

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type: 図書
Title: 半導体デバイスの静電気破壊現象とその評価方法に関するガイドライン
Title Transcription: ハンドウタイデバイスノセイデンキハカイゲンショウトソノヒョウカホウホウニカンスルガイドライン
Volume: 附属書
Author Heading: 日本電子部品信頼性センターニホンデンシブヒンシンライセイセンター ( 00293467 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本電子部品信頼性センター
Publication Date: 1988.3
Publication Date (W3CDTF): 1988
Extent: 34p
Size: 26cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 半導体ハンドウタイ ( 00562913 )Authorities
NDC 8th ed.: 549.8
NDLC: ND371
Target Audience: 一般
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: ND371-E12
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000001967673
http://id.ndl.go.jp/bib/000001967673
National Bibliography No. (JPNO): 89024300
Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111