インターネプコン/エレクトロテスト/ADEEジャパン : セミナーテキスト. 1993 ET

• Material Type: 図書
• Title: インターネプコン/エレクトロテスト/ADEEジャパン : セミナーテキスト
• Title Transcription: インターネプコン エレクトロテスト エイディーイーイー ジャパン
• Volume: 1993 ET
• Author/Editor: 工業調査会, カーナーズエクスポジションジャパン 編
• Author Heading: 工業調査会 コウギョウ チョウサカイ ( 00288100 )Authorities; カーナーズエクスポジションジャパン株式会社 カーナーズ エクスポジション ジャパン カブシキ ガイシャ ( 00286169 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: [東京] : 工業調査会
• Publication Date: [1992]
• Publication Date (W3CDTF): 1992
• Extent: 6冊
• Size: 26cm
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: 電子工学 デンシコウガク ( 00561449 )Authorities; 検査管理 ケンサカンリ ( 00565545 )Authorities
• NDC 8th ed.: 549
• NDLC: ND351; M291
• Target Audience: 一般
• Note (General): 書名は奥付による; 共同刊行: カーナーズエクスポジションバャパン
• Price: 非売品
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: ND351-E82
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000002311983; http://id.ndl.go.jp/bib/000002311983
• National Bibliography No. (JPNO): 94033661
• Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 111

• Contents: 1 実装基板の自動検査・調整システム 2 実装工程における画像処理検査技術 3 VXI計測システム 4 LCD検査技術 5 ハンダ付け不良検査 6 プリント回路基板設計とCAT(Provided by: 国立国会図書館蔵書)