インターネプコン/エレクトロテスト/ADEEジャパン : セミナーテキスト. 1993 A

• Material Type: 図書
• Title: インターネプコン/エレクトロテスト/ADEEジャパン : セミナーテキスト
• Title Transcription: インターネプコン エレクトロテスト エイディーイーイー ジャパン
• Volume: 1993 A
• Author/Editor: 工業調査会, リードエグジビションジャパン 編
• Author Heading: 工業調査会 コウギョウ チョウサカイ ( 00288100 )Authorities; リードエグジビションジャパン株式会社 リード エグジビション ジャパン カブシキ ガイシャ ( 00342242 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: [東京] : 工業調査会
• Publication Date: [1993]
• Publication Date (W3CDTF): 1993
• Extent: 11冊
• Size: 26cm
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: 電子工学 デンシコウガク ( 00561449 )Authorities; CAD ( 00575531 )Authorities
• NDC 8th ed.: 549
• NDLC: ND351; M154
• Target Audience: 一般
• Note (General): 書名は奥付による; 共同刊行: リードエグジビションジャパン
• Price: 非売品
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: ND351-E82
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000002311985; http://id.ndl.go.jp/bib/000002311985
• National Bibliography No. (JPNO): 94033663
• Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 111

• Contents: 1 ハードウェア設計記述言語の標準化 2 高速・高密度化時代のPCB実装CAD 3 VLSI上流設計技術 4 デザインインの実施例 5 超高性能RISCμプロセッサチップのアーキテクチャ 6 高位論理合成システムPARTHENONによるASIC設計 7 プリント回路基板のEMI対策 8 FPGAを使...