インターネプコン/エレクトロテスト/ADEEジャパン : セミナーテキスト 1993 E

インターネプコン/エレクトロテスト/ADEEジャパン : セミナーテキスト. 1993 E

Call No. (NDL): ND351-E82
Bibliographic ID of National Diet Library: 000002311986

Material type: 図書

Author: 工業調査会, リードエグジビションジャパン編

Publisher: 工業調査会

Publication date: [1993]

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 3冊 ; 26cm

NDC: 549

View All

Notes on use

Note (General)：: 書名は奥付による共同刊行: リードエグジビションバャパン

Detailed bibliographic record

Contents：: 1 ファインピッチ対応インサーキットテスタ 2 ハンダ付け不良検査 3 クリームハンダ印刷と外観検査システム(Provided by: 国立国会図書館蔵書)

Search by Bookstore

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper

Material Type: 図書
Title: インターネプコン/エレクトロテスト/ADEEジャパン : セミナーテキスト
Title Transcription: インターネプコンエレクトロテストエイディーイーイージャパン
Volume: 1993 E
Author/Editor: 工業調査会, リードエグジビションジャパン編
Author Heading: 工業調査会コウギョウチョウサカイ ( 00288100 )Authorities
リードエグジビションジャパン株式会社リードエグジビションジャパンカブシキガイシャ ( 00342242 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: [東京] : 工業調査会
Publication Date: [1993]
Publication Date (W3CDTF): 1993
Extent: 3冊
Size: 26cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 電子工学デンシコウガク ( 00561449 )Authorities
検査管理ケンサカンリ ( 00565545 )Authorities
NDC 8th ed.: 549
NDLC: ND351
M291
Target Audience: 一般
Note (General): 書名は奥付による
共同刊行: リードエグジビションバャパン
Price: 非売品
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: ND351-E82
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000002311986
http://id.ndl.go.jp/bib/000002311986
National Bibliography No. (JPNO): 94033664
Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules, Preliminary New Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111