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半導体故障物理研究委員会成果報告書 : LSIの信頼性設計・評価用TEG(エレクトロマイグレーション、ホットキャリア評価用TEGについて) : 平成8年度

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半導体故障物理研究委員会成果報告書 : LSIの信頼性設計・評価用TEG(エレクトロマイグレーション、ホットキャリア評価用TEGについて) : 平成8年度

Call No. (NDL)
ND386-G63
Bibliographic ID of National Diet Library
000002647567
Material type
図書
Author
日本電子部品信頼性センター
Publisher
日本電子部品信頼性センター
Publication date
1997.3
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
93p ; 30cm
NDC
549.7
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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
ハンドウタイ コショウ ブツリ ケンキュウ イインカイ セイカ ホウコクショ : LSI ノ シンライセイ セッケイ ヒョウカヨウ TEG エレクトロマイグレーション ホットキャリア ヒョウカヨウ TEG ニ ツイテ : ヘイセイ 8ネンド
Author Heading
日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )Authorities
Publication Date
1997.3
Publication Date (W3CDTF)
1997
Extent
93p
Size
30cm
Place of Publication (Country Code)
JP