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ESD(静電気放電)に敏感なデバイス・システムの障害防止対策に関する調査研究 上 (静電気研究委員会研究成果報告書 ; 平成10年度)

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ESD(静電気放電)に敏感なデバイス・システムの障害防止対策に関する調査研究. 上

(静電気研究委員会研究成果報告書 ; 平成10年度)

Call No. (NDL)
ND371-G132
Bibliographic ID of National Diet Library
000002789902
Material type
図書
Author
日本電子部品信頼性センター
Publisher
日本電子部品信頼性センター
Publication date
1999.3
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
33p ; 30cm
NDC
549.8
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Detailed bibliographic record

Contents:

半導体デバイスの静電気破壊とその周辺(Provided by: 国立国会図書館蔵書)

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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
ESD セイデンキ ホウデン ニ ビンカンナ デバイス システム ノ ショウガイ ボウシ タイサク ニ カンスル チョウサ ケンキュウ
Volume
Author Heading
日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )Authorities
Publication Date
1999.3
Publication Date (W3CDTF)
1999
Extent
33p