半導体の深さ分析に関する国際規格共同開発調査成果報告書

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Material Type: 図書
Title: 半導体の深さ分析に関する国際規格共同開発調査成果報告書
Title Transcription: ハンドウタイノフカサブンセキニカンスルコクサイキカクキョウドウカイハツチョウサセイカホウコクショ
Author Heading: 大阪科学技術センター付属ニューマテリアルセンターオオサカカガクギジュツセンターフゾクニューマテリアルセンター ( 00640196 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: 大阪 : 大阪科学技術センター付属ニューマテリアルセンター
Publication Date: 2001.3
Publication Date (W3CDTF): 2001
Extent: 73p
Size: 30cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 半導体--規格ハンドウタイキカク ( 00611071 )Authorities
NDC 9th ed.: 549.8 : Electronic engineering
NDLC: M361
ND371
Target Audience: 一般
Note (General): 平成12年度経済産業省委託
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: M361-G472
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000003005799
http://id.ndl.go.jp/bib/000003005799
National Bibliography No. (JPNO): 20176292
Cataloging Rule: Nippon Cataloguing Rules 1987 Revised Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111