Charakterisierung von Schichtsystemen mittels spektroskopischer Ellipsometrie im fernen Infrarot / Georg Dittmar. 1. Aufl. (Aachener Beiträge zur Physik der kondensierten Materie ; Bd. 13)

Charakterisierung von Schichtsystemen mittels spektroskopischer Ellipsometrie im fernen Infrarot / Georg Dittmar.

1. Aufl.

(Aachener Beiträge zur Physik der kondensierten Materie ; Bd. 13)

Call No. (NDL): MC141-A138
Bibliographic ID of National Diet Library: 000003241775

Material type: 図書

Author: Dittmar, Georg.

Publisher: Verlag der Augustinus Buchh.

Publication date: 1994.

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 179 p. : ill. ; 21 cm.

NDC: -

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Note (General)：: Bibliography: p. [168]-172.

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Paper

Material Type: 図書
ISBN: 3860732722
Title: Charakterisierung von Schichtsystemen mittels spektroskopischer Ellipsometrie im fernen Infrarot / Georg Dittmar.
Edition: 1. Aufl.
Series Title: Aachener Beiträge zur Physik der kondensierten Materie ; Bd. 13
Author Heading: Dittmar, Georg.
Publication, Distribution, etc.: Aachen : Verlag der Augustinus Buchh.
Publication Date: 1994.
Publication Date (W3CDTF): 1994
Extent: 179 p. : ill. ; 21 cm.
Place of Publication (Country Code): DE
Text Language Code: ger
Subject Heading: 薄膜. Hakumaku.
層状構造. Sozyokozo.
表面 (物理学) Hyomen (buturigaku)
偏光. Henko.
スペクトル. Supekutoru.
干渉計. Kansyokei.
NDLC: MC141
Note (General): Bibliography: p. [168]-172.
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: MC141-A138
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000003241775
http://id.ndl.go.jp/bib/000003241775
Bibliographic Record Category (NDL): 211