Ein hochfrequentes Messverfahren zur Bestimmung des spezifischen Widerstandes von Halbleiter-Einkristallen

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Material Type: 博士論文
Title: Ein hochfrequentes Messverfahren zur Bestimmung des spezifischen Widerstandes von Halbleiter-Einkristallen
Author/Editor: Krauss, Hermann.
Author Heading: Krauss, Hermann.
Publication, Distribution, etc.: Karlsruhe : Technische Hochschule Fridericiana
Publication Date: 1963.
Extent: 64p.
Degree grantor/type: Technische Hochschule Fridericiana
Date Granted: 1963.
Date Granted (W3CDTF): 1963
Note (Dissertation): 博士論文
Thesis (doctoral) --Technische Hochschule Fridericiana, 1963.
Place of Publication (Country Code): DE
Text Language Code: ger
Note (General): Baden Institute of Technology.
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: M-DIGK-1302
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000003413666
http://id.ndl.go.jp/bib/000003413666
Bibliographic Record Category (NDL): 216